Оптический нивелир Leica NAK 2

Высокоточный и надежный оптический нивелир Leica NAK 2 предназначен, в первую очередь, для высокоточного решения задач в геодезии, строительстве, промышленности и метрологии. Высокая точность измерений достигается благодаря оснащению прибора специальным микрометром с параллельными пластинами.

Средняя квадратическая ошибка нивелира Leica NAK 2 составляет 0,7 мм в обычном состоянии, и 0,3 мм при использовании микрометренной насадки. Наведение на цель происходит плавно и быстро, благодаря системе "бесконечных" наводящих винтов. Нивелир Leica NAK 2 использует высокочувствительный компенсатор, позволяющий автоматически привести ось инструмента в рабочее положение. Диапазон работы компенсатора составляет 30´, а точность установки достигает 0,3", благодаря чему прибор чувствительно реагирует на малейшие отклонения и сигнализирует об этом.

Leica NAK 2 оснащён фирменной просветленной оптикой с 32-тикратным увеличением. Также возможна установка дополнительных окуляров FOK117 или FOK73 с увеличением в 25 и 40 раз соответственно. Как правило, такое увеличение необходимо при проведении высокоточных измерений. Зрительная труба нивелира заполнена инертным газом, что предотвращает запотевание окуляра. Минимальное расстояние фокусировки составляет 1,6м, что позволяет использовать нивелир для работ в помещении. Для повышения удобства измерений имеется встроенный горизонтальный круг и зеркало круглого уровня.

Для Leica NAK 2 в продаже есть множество полезных дополнений: для высокоточных измерений вы можете использовать специальную микрометровую насадку на объектив – она позволяет проводить измерять с точностью до 0,01 миллиметра. Такая точность необходима, например, при изучении деформаций или при метрологических измерениях на полигонах. Если прибор используется для лабораторных работ в качестве коллиматора, то можно приобрести специальную лампу для подсветки. При проведении высокоточных работ рекомендуется использовать тяжелый деревянный штатив, желательно с нераздвигающимися ножками для сокращения влияния на результат измерений температурных деформаций и проседания ножек штатива.